在电子电路隔离体系中，光耦的隔离电压（VISO）是衡量其绝缘安全的关键指标，主要用于阻断高低压电路间的电气连接；而光耦的寿命则取决于半导体材料老化、绝缘层稳定性、使用环境等因素。两者并非简单的线性关联——隔离电压高低不直接决定光耦寿命，但 合理的隔离电压选型、优质的绝缘材料与精密工艺，能显著提升光耦的长期稳定性，间接延长寿命；反之，隔离电压与场景不匹配或绝缘设计缺陷，会加速光耦老化，缩短使用寿命。